logo
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο

  • Επισημαίνω

    Μικροσκόπιο ηλεκτρονικών σαρώσεων 2000000x

    ,

    Μικροσκόπιο ηλεκτρονικών μετρήσεων εκπομπής πεδίου Schottky

    ,

    Οπτικό εκπαιδευτικό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης

  • Resolution
    0.9nm@30kV(SE) 1.4nm@15kV(SE)
  • Μεγέθυνση
    1 ¢2000000x
  • Electron Gun
    Schottky Field Emission Gun
  • Voltage
    0.02kV~30kV
  • Electron Beam
    1pA~40nA
  • Dwell Time
    20ns
  • Τόπος καταγωγής
    Κίνα
  • Μάρκα
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Πιστοποίηση
    CE, Rohs
  • Αριθμό μοντέλου
    Α63.7040
  • Έγγραφο
  • Ποσότητα παραγγελίας min
    1 τεμάχιο
  • Τιμή
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Συσκευασία λεπτομέρειες
    Συσκευασία χαρτοκιβωτίων, για τη μεταφορά εξαγωγής
  • Χρόνος παράδοσης
    5 έως 20 ημέρες
  • Όροι πληρωμής
    T/T, δυτική ένωση, Paypal
  • Δυνατότητα προσφοράς
    μήνας 5000 PC

Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο

Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 0
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 1
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 2
 
Προδιαγραφές Α63.7140 Α63.7160
Βασικές παραμέτρους Απόφαση
1.4nm@15kV(SE)
2.5nm@30.0kV ((BSE)
0.9nm@30kV(SE)
1.2nm@15kV(SE)
1.5nm@1kV(SE, BD λειτουργία)
Εντατική τάση 00,02 kVΕπικεφαλής30kV 00,02 kVΕπικεφαλής30kV
Μεγέθυνση 1Επικεφαλής2000000x 1Επικεφαλής2000000x
Πυροβόλο ηλεκτρονίων Πυροβόλο εκπομπών θερμικού πεδίου Schottky Πυροβόλο εκπομπών θερμικού πεδίου Schottky
ρεύμα ανιχνευτή 1pA ~ 40nA 1pA ~ 40nA
Το οπτικό πεδίο 6 χιλιοστά 6 χιλιοστά
Χρόνος διαμονής 20 μ.μ. 20 μ.μ.
Αποτροπή δέσμης - Δεν ξέρω. Σύστημα διπλής κάμψης δέσμης:
Ηλεκτρομαγνητικό και στατικό υβριδικό σύστημα εκτροπής δέσμης
Οπτικοειδή φακοί Διπλό σύστημα στόχων:
Μαγνητικός φακός αντικειμένου & ηλεκτροστατικός φακός αντικειμένου, μαγνητικό δείγμα προσαρμόσιμο
Διπλό σύστημα στόχων:
Μαγνητικός φακός αντικειμένου & ηλεκτροστατικός φακός αντικειμένου, μαγνητικό δείγμα προσαρμόσιμο
Άνοιγμα του όπλου (10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm) * 2 σετ (1 για εφεδρικό), κινητήρα (10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm) * 2 σετ (1 για εφεδρικό), κινητήρα
Δικαστήριο Μέγεθος αίθουσας Διάμετρο 370mm, ύψος 330mm, βάθος 344mm Διάμετρο 370mm, ύψος 330mm, βάθος 344mm
Λιμάνι επέκτασης 10 Λιμένες 10 Λιμένες
Σύστημα κενού 2 αντλία ιόντων
1 Μοριακή αντλία τύπου τουρμ
1 Μηχανική αντλία χωρίς λάδι
2 αντλία ιόντων
1 Μοριακή αντλία τύπου τουρμ
1 Μηχανική αντλία χωρίς λάδι
Κενό του όπλου: 2x10-7Pa
Κενό αίθουσας: 6x10-4Pa
Κενό του όπλου: 2x10-7Pa
Κενό αίθουσας: 6x10-4Pa
Στάδιο 5 Άξονες Αυτοκίνητο στάδιο, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°Επικεφαλής70°, μέγιστο φορτίο > 500 g 5 Άξονες Αυτοκίνητο στάδιο, X:130mm, Y:130mm, Z:60mm, R: 360°, T: -10°Επικεφαλής70°, μέγιστο φορτίο > 500 g
Κάμερα Οπτική χρωματική πλοήγηση CCD
Υψηλής ευκρίνειας IR CCD
Οπτική χρωματική πλοήγηση CCD
Υψηλής ευκρίνειας IR CCD
Ανιχνευτές και επέκτασης Τύπος Ανιχνευτής SE Ανιχνευτής SE
Ανιχνευτής ενσωματωμένου φακού SE
Πληροφοριακό & Λογισμικό Υπολογιστής Σταθμός εργασίας, μνήμη 16G, σκληρός δίσκος 512G, οθόνη 24 ιντσών, σύστημα Win10 Σταθμός εργασίας, μνήμη 16G, σκληρός δίσκος 512G, οθόνη 24 ιντσών, σύστημα Win10
Έλεγχος Πίνακας ελέγχου & Joystick Πίνακας ελέγχου & Joystick
Λογισμικό Αυτοκινητική εστίαση, αυτόματο στεγματικό, αυτόματη αντίθεση φωτεινότητας, μορφή εικόνας TIFF,JPG,PNG,BMP, ανάλυση εξόδου εικόνας Max 16k*16k Αυτοκινητική εστίαση, αυτόματο στεγματικό, αυτόματη αντίθεση φωτεινότητας, μορφή εικόνας TIFF,JPG,PNG,BMP, ανάλυση εξόδου εικόνας Max 16k*16k
Προαιρετικά αξεσουάρ Α50.7101 ΕΜΣ ΕΜΣ
Α50.7102 - InLens BSE
Α50.7103 Φασματοσκόπηση διάσπασης ενέργειας (EDS/EDX) Φασματοσκόπηση διάσπασης ενέργειας (EDS/EDX)
Α50.7104 Τύπος διάσπασης ηλεκτρονικών αντιδιασκορπών (EBSD) Τύπος διάσπασης ηλεκτρονικών αντιδιασκορπών (EBSD)
Α50.7105 ΕΔΣ+ΕΒΣΔ ΕΔΣ+ΕΒΣΔ
Α50.7106 Ηλεκτρονική μετάδοση σάρωσης (STEM) Ηλεκτρονική μετάδοση σάρωσης (STEM)
Α50.7107 Τρέμα που προκαλείται από δέσμη ηλεκτρονίων (EBIC) Τρέμα που προκαλείται από δέσμη ηλεκτρονίων (EBIC)
Α50.7108 Καθοδολαμπή (CL) Καθοδολαμπή (CL)
Α50.7109 Πλάσμα Πλάσμα
Α50.7110 Αεροθάλαμος, αποθήκη ανταλλαγής δειγμάτων Αεροθάλαμος, αποθήκη ανταλλαγής δειγμάτων
Α50.7111 Επικαιροποιημένο Επικαιροποιημένο
Α50.7120 Μεγάλο λογισμικό ράψεως εικόνας Μεγάλο λογισμικό ράψεως εικόνας
Α50.7121 Λογισμικό ανάλυσης σωματιδίων Λογισμικό ανάλυσης σωματιδίων
Α50.7112 Κρατητής μεταφοράς κενού Κρατητής μεταφοράς κενού
Α50.7113 Σύστημα συσχετισμού Raman-SEM Σύστημα συσχετισμού Raman-SEM
Α50.7115 ΥΠΣ ΥΠΣ
Α50.7114 - Ενσωματωμένος ενεργειακός ενσωματωτής στήλης ExB
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 3

Σημαντική συμβατότητα, υψηλή προσαρμοστικότητα

Μπορεί να εγκατασταθεί σε διάφορους τερματικούς, όπως υπολογιστές, κινητά τηλέφωνα και tablet, για τον έλεγχο του μικροσκοπίου ηλεκτρονίων.Αυτό το λειτουργικό σύστημα ηλεκτρονικού μικροσκόπου SEM-OS είναι συμβατό με το SEM από διάφορους κατασκευαστές και είναι συμβατό με πολλά μοντέλα, την επέκταση του οικοσυστήματος SEM

 

Ενσωματωμένο λογισμικό και υπολογιστές, απλό και αποτελεσματικό

Ενιαία διεπαφή χρήστη, χωρίς να χρειάζεται επανειλημμένη προσαρμογή σε διαφορετικούς τερματικούς;Εξοπλισμένο με αλγόριθμους τεχνητής νοημοσύνης για τη συλλογή πληροφοριών και την παρουσίαση αποτελεσμάτων εξόδου σε πραγματικό χρόνο με καθαρότερη ποιότητα εικόνας και πιο εμφανείς λεπτομέρειεςΤο SEM που βασίζεται στον πυρήνα επιταχύνει τον έλεγχο του υλικού

 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 4

1 Πίνακας μενού, 2 Περιοχή ταχείας λειτουργίας, 3 Πίνακας δεδομένων, 4 Περιοχή παρακολούθησης, 5 Περιοχή πλοήγησης, 6 Πλήρης περιοχή, 7 Περιοχή λειτουργίας, 8 Περιοχή κατάστασης

 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 5
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 6

Το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης της σειράς A63.7140/A63.7160 είναι εξοπλισμένο με ράβδους μεταφοράς κενού IGS, φασματομετρητές ενέργειας EDS, φασματοσκόπηση Raman και άλλα εξαρτήματα,παρέχοντας μια ολοκληρωμένη λύση για την έρευνα μπαταριών λιθίου από την προετοιμασία δειγμάτων, παρατήρηση μορφολογίας, ανάλυση σύνθεσης και δομική ανάλυση.

 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 7
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 8
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 9
 

Βήμα 1:Η ράβδος μεταφοράς φορτώνεται στο κιβώτιο γάντι για να ολοκληρωθεί η μεταφορά του δείγματος από το κιβώτιο γάντι στο θάλαμο ράβδου μεταφοράς.

 

Βήμα 2:Η διαδικασία μεταφοράς δείγματος περιλαμβάνει τη μεταφορά της θετικής πίεσης στο εσωτερικό του θαλάμου της ράβδου κατά τη διάρκεια της διαδικασίας μεταφοράς.

 

Βήμα 3:Η ράβδος μεταφοράς φορτώνεται στο μικροσκόπιο ηλεκτρονίων για τη μεταφορά του δείγματος από τον θάλαμο ράβδου μεταφοράς στον κύριο θάλαμο του μικροσκόπου ηλεκτρονίων.

 

Βήμα 4:Παίρνοντας δείγματα και μετα επεξεργασία δεδομένων, προσαρμοσμένη ανάπτυξη σύμφωνα με τις ανάγκες των χρηστών.

 

 

SEM+ EDS Φασματομετρητής + Ράβδος Μεταφοράς Κενού + Φασματοσκόπηση Ραμάν + Λογισμικό Ανάλυσης

 

Διαρθρωτική ανάλυση. Ανάλυση μηχανισμών. Πίνακας μετατόπισης υψηλής ακρίβειας.

▪ Αντισταθμίστε την ανάλυση της μοριακής δομής που δεν μπορεί να επιτύχει η τεχνολογία EDS και κατανοήστε πλήρως τη σύνθεση του δείγματος

▪ Η γρήγορη εναλλαγή μεταξύ του οπτικού άξονα Raman και του οπτικού άξονα δέσμης ηλεκτρονίων, η πολυδιάστατη ανάλυση των χαρακτηριστικών των δειγμάτων και η παρακολούθηση σε πραγματικό χρόνο. Η διαρθρωτική εξέλιξη των υλικών κατά τη διάρκεια των διαδικασιών φόρτισης και εκφόρτισης και η διεξοδική μελέτη των μηχανισμών υποστήριξής τους

▪ Μεγάλη στροφή υψηλής ακρίβειας υψηλής ταχύτητας πιεζοηλεκτρικό κεραμικό τραπέζι μετατόπισης, επιτυγχάνοντας ολοκληρωμένη απόκτηση δεδομένων στην ίδια θέση,Συνεδρίαση Ανάλυση σταθερότητας μακροπρόθεσμης συγκεντρωτικής επιφάνειας Ραμάν

 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 10
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 11
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 12
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 13
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 14
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 15
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 16
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 17
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 18
 
Οπτο Edu A63.7140A63.7160 2000000x Σκότκι Σκανάρισμα Πεδίου Εκπομπής ηλεκτρονικό μικροσκόπιο 19