♦Afforadable SEM
♦English επιτροπή λειτουργίας
♦Full σύνολο αυτοματοποιημένου λογισμικού
υπηρεσία ♦Modification διαθέσιμη
♦Bestseller SEM
Η μικροσκόπηση ηλεκτρονίων ανίχνευσης το (sem) είναι κατάλληλη για την παρατήρηση της τοπογραφίας επιφάνειας των μετάλλων, της κεραμικής, των ημιαγωγών, των μεταλλευμάτων, της βιολογίας, των πολυμερών σωμάτων, των σύνθετων και των μονοδιάστατων, δισδιάστατων και τρισδιάστατων υλικών νανο-κλίμακας (δευτεροβάθμια εικόνα ηλεκτρονίων, αναδρομικά διασκορπισμένη εικόνα ηλεκτρονίων). Μπορεί να χρησιμοποιηθεί για να αναλύσει τα τμήματα σημείου, γραμμών και επιφάνειας του microregion. Χρησιμοποιείται ευρέως στο πετρέλαιο, τη γεωλογία, τον ορυκτό τομέα, την ηλεκτρονική, τον τομέα ημιαγωγών, την ιατρική, τον τομέα της βιολογίας, τη χημική βιομηχανία, τον πολυμερή υλικό τομέα, τη έρευνα για έγκλημα της δημόσια ασφαλείας, τη γεωργία, τη δασονομία και άλλους τομείς.
| Ίνα SEM βολφραμίου Eco A63.7062 | ||
| Ψήφισμα | το 4.5nm@30KV (SE) το 6nm@30KV (EBS) | |
| Ενίσχυση | Αρνητική ενίσχυση: 15x~250000x Ενίσχυση οθόνης: 30x~500000x | |
| Πυροβόλο όπλο ηλεκτρονίων | Θερμαμένη βολφράμιο κάθοδος-προ κεντροθετημένη κασέτα ινών βολφραμίου | |
| Επιταχύνοντας τάση | 0~30KV | |
| Σύστημα φακών | Τριών επιπέδων ηλεκτρομαγνητικός φακός (εκλεπτυμένος φακός) | |
| Αντικειμενικό άνοιγμα | Διευθετήσιμο εξωτερικό κενό σύστημα ανοιγμάτων μολυβδαίνιου | |
| Στάδιο δειγμάτων | Στάδιο πέντε αξόνων | |
| Σειρά ταξιδιού | Χ (αυτοκίνητο) | 0~50mm |
| Υ (αυτόματο) | 0~50mm | |
| Ζ (χειρωνακτικό) | 0~25mm | |
| Ρ (χειρωνακτικό) | 360º | |
| Τ (χειρωνακτικό) | -5º~90º | |
| Ανώτατη διάμετρος δειγμάτων | 150mm | |
| Ανιχνευτής | Υψηλός κενός δευτεροβάθμιος ανιχνευτής ηλεκτρονίων (με την προστασία ανιχνευτών) | |
| Τροποποίηση | Σκηνική βελτίωση EBL STM AFM Στάδιο θέρμανσης Στάδιο Cryo Εκτατό στάδιο Μικροϋπολογιστής-νανο χειριστής SEM+Coating μηχανή SEM+Laser | |
| Εξαρτήματα | CCD, εργαστήριο6, ανιχνευτής ακτίνας X (EDS), EBSD, CL, WDS, που ντύνει τη μηχανή | |
| Κενό σύστημα | Στροβιλο μοριακές αντλίες Αντλία περιστροφής | |
| Ρεύμα δεσμών ηλεκτρονίων | 10pAt~0.1μA | |
| PC | Προσαρμοσμένος σταθμός εργασίας της Dell | |
Θερμαμένη βολφράμιο κάθοδος-προ κεντροθετημένη κασέτα ινών βολφραμίου
Ο ηλεκτρομαγνητικός φακός σε αυτόν τον κύλινδρο
Η βαλβίδα απομόνωσης εξασφαλίζει ότι το ανώτερο κενό δεν επηρεάζεται όταν ανοίγουν το δωμάτιο δειγμάτων
Αντικειμενικό άνοιγμα
Το δείγμα για να είναι παρατηρηθείσα ανάγκη να υποβληθεί το δωμάτιο δειγμάτων
Στάδιο πέντε αξόνων, μηχανοποιημένος X/Y έλεγχος (μικρός)
| Αναλώσιμα | ||||
| Όνομα | Προδιαγραφή | Ποσότητα | Μονάδα | |
| 1 | Κεντροθετημένη ίνα κασετών | 5 | σύνολο | |
| 2 | Φλυτζάνι δειγμάτων | (φ13) | 10 | PC |
| 3 | Φλυτζάνι δειγμάτων | (φ32) | 10 | PC |
| 4 | Αγώγιμη ταινία άνθρακα (διπλή πλευρά) | 6mm | 1 | PC |
| 5 | Κενό λίπος | 1 | Μπουκάλι | |
| 6 | Lint-free ύφασμα | 20 | PC | |
| 7 | Διέξοδος-σωλήνας | 5 | μετρητής | |
| 8 | Γυαλίζοντας κόλλα | 1 | σύνολο | |
| Εργαλεία | ||||
| Όνομα | Ποσότητα | Μονάδα | ||
| 1 | Γαλλικό κλειδί Άλλεν | 1 | σύνολο | |
| 2 | Καθαρίστε το ραβδί | 1 | PC | |
| 3 | Υπερανυψωμένος | 1 | PC | |
| 4 | Άνοιγμα που αφαιρεί το εργαλείο | 1 | PC | |
| 5 | Τσιμπιδάκια | 1 | PC | |
| 6 | Κατσαβίδι | 2 | PC | |
Υψηλός κενός δευτεροβάθμιος ανιχνευτής ηλεκτρονίων
Προαιρετική βοηθητική διεπαφή σύνδεσης
A63.7062 υποστήριξη τρία παράθυρο σύγχρονο, δύο Chanel (SE+BSE) με το παράθυρο CCD Ανάλυση εικόνας: 4096*4096 εικονοκύτταρα
Τα προϊόντα μας πωλούνται σε όλο τον κόσμο. Μπορείτε να είστε σίγουροι για ολόκληρη τη διαδικασία των προϊόντων μας.
