Να στείλετε μήνυμα
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
High Resolution Digital Scanning Optical Microscope Huge Sample Stage

Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο

  • Υψηλό φως

    υψηλή ανάλυση που ανιχνεύει το οπτικό μικροσκόπιο

    ,

    τεράστιο στάδιο δειγμάτων που ανιχνεύει το οπτικό μικροσκόπιο

  • Ψήφισμα
    το 3nm@30KV (SE) το 6nm@30KV (EBS)
  • Ενίσχυση
    Αρνητική ενίσχυση: 8x~300000x Ενίσχυση οθόνης: 12x~600000x
  • Πυροβόλο όπλο ηλεκτρονίων
    Θερμαμένη βολφράμιο κάθοδος-προ κεντροθετημένη κασέτα ινών βολφραμίου
  • Επιταχύνοντας τάση
    0~30KV
  • Αντικειμενικό άνοιγμα
    Διευθετήσιμο εξωτερικό κενό σύστημα ανοιγμάτων μολυβδαίνιου
  • Στάδιο δειγμάτων
    Στάδιο πέντε αξόνων
  • Τόπος καταγωγής
    Κίνα
  • Μάρκα
    OPTO-EDU
  • Πιστοποίηση
    CE, Rohs
  • Αριθμό μοντέλου
    A63.7069
  • Ποσότητα παραγγελίας min
    1 pc
  • Τιμή
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Συσκευασία λεπτομέρειες
    Συσκευασία χαρτοκιβωτίων, για τη μεταφορά εξαγωγής
  • Χρόνος παράδοσης
    5 ~ 20 ημέρες
  • Όροι πληρωμής
    Μ / Τ, Δυτική Ένωση, Paypal
  • Δυνατότητα προσφοράς
    μήνας 5000 PC

Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο

 
  • 8x~300000x με τον ανιχνευτή SED+BSED+CCD, στάδιο πέντε αξόνων (αυτόματο X/Y, χειρωνακτικό Z/R/T)
  • Βελτιώσιμο LaB6, ανιχνευτής ακτίνας X, EBSD, CL, WDS, ντύνοντας τη μηχανή και το κ.λπ.
  • Πολυ τροποποίηση EBL, STM, AFTM, στάδιο Heatign, στάδιο Cryo, εκτατό στάδιο, SEM+Laser και κ.λπ.
  • Η αυτόματη βαθμολόγηση, αυτόματη ελαττωματική ανίχνευση, χαμηλότερο κόστος για διατηρεί & επισκευάζει
  • Εύκολη & φιλική διεπαφή λειτουργίας, όλες που ελέγχονται από το ποντίκι στο σύστημα παραθύρων υπολογιστών (συμπεριλαμβανόμενο)
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 0
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 1
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 2
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 3
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 4
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 5
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 6
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 7
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 8
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 9
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 10
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 11
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 12     
A63.7069 κύρια λειτουργία λογισμικού
Υψηλός κανονισμός Κάθετη ανίχνευση γραμμών Πιθανός κανονισμός μετατόπισης
Τρέχων κανονισμός ινών Ρύθμιση συμπυκνωτών Πολυ μέτρηση κλίμακας
Αστιγματική ρύθμιση Ηλεκτρική έως κεντρική ρύθμιση Αυτόματες φωτεινότητα/αντίθεση
Ρύθμιση φωτεινότητας Αντικειμενική ρύθμιση φακών Αυτόματη εστίαση
Ρύθμιση αντίθεσης Πρόβλεψη φωτογραφιών Αυτόματη αποβολή αστιγματισμού
Ρύθμιση ενίσχυσης Ενεργός κυβερνήτης Αυτόματη ρύθμιση ινών
Επιλεγμένος τρόπος ανίχνευσης περιοχής 4 ρύθμιση ταχύτητας ανίχνευσης Διαχείριση των παραμέτρων
Τρόπος ανίχνευσης σημείου Αντικειμενική αντιστροφή φακών Στιγμιότυπο εικόνας, πάγωμα εικόνας
Ανίχνευση επιφάνειας Αντιστροφή συμπυκνωτών Μια βασική γρήγορη άποψη
Ανίχνευση οριζόντιων γραμμών Ηλεκτρική ρύθμιση περιστροφής  
 

Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 13
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 14     
SEM A63.7069 A63.7080 A63.7081
Ψήφισμα το 3nm@30KV (SE)
το 6nm@30KV (EBS)
το 1.5nm@30KV (SE)
το 3nm@30KV (EBS)
το 1.0nm@30KV (SE)
το 3.0nm@1KV (SE)
το 2.5nm@30KV (EBS)
Ενίσχυση 8x~300000x αρνητική αληθινή ενίσχυση 8x~800000x αρνητική αληθινή ενίσχυση 6x~1000000x αρνητική αληθινή ενίσχυση
Πυροβόλο όπλο ηλεκτρονίων Προ-κεντροθετημένη κασέτα ινών βολφραμίου Πυροβόλο όπλο εκπομπής τομέων Schottky Πυροβόλο όπλο εκπομπής τομέων Schottky
Τάση Η επιταχύνοντας τάση 0~30KV, συνεχής διευθετήσιμος, ρυθμίζει το βήμα το 100V@0-10Kv, το 1KV@10-30KV
Γρήγορη άποψη Μια βασική γρήγορη λειτουργία εικόνας άποψης ΑΠΡΟΣΔΙΟΡΙΣΤΟΣ ΑΠΡΟΣΔΙΟΡΙΣΤΟΣ
Σύστημα φακών Ηλεκτρομαγνητικός εκλεπτυμένος φακός τρεις-επιπέδων Ηλεκτρομαγνητικός εκλεπτυμένος φακός πολυ-επιπέδων
Άνοιγμα 3 τα αντικειμενικά ανοίγματα μολυβδαίνιου, διευθετήσιμα έξω από το κενό σύστημα, καμία ανάγκη αποσυνθέτουν το στόχο για να αλλάξουν το άνοιγμα
Κενό σύστημα 1 στροβιλο μοριακή αντλία
1 μηχανική αντλία
Αίθουσα Vacuum>2.6E-3Pa δειγμάτων
Αίθουσα Vacuum>2.6E-3Pa πυροβόλων όπλων ηλεκτρονίων
Πλήρως αυτόματος κενός έλεγχος
Κενή λειτουργία συναρμολογήσεων

Προαιρετικό πρότυπο: A63.7069-LV
1 στροβιλο μοριακή αντλία
2 μηχανικές αντλίες
Αίθουσα Vacuum>2.6E-3Pa δειγμάτων
Αίθουσα Vacuum>2.6E-3Pa πυροβόλων όπλων ηλεκτρονίων
Πλήρως αυτόματος κενός έλεγχος
Κενή λειτουργία συναρμολογήσεων
Χαμηλή κενή σειρά 10~270Pa για τη γρήγορη μετάβαση στα δευτερόλεπτα του 90 για τη EBS (LV)
1 ιονικό σύνολο αντλιών
1 στροβιλο μοριακή αντλία
1 μηχανική αντλία
Αίθουσα Vacuum>6E-4Pa δειγμάτων
Αίθουσα Vacuum>2E-7 PA πυροβόλων όπλων ηλεκτρονίων
Πλήρως αυτόματος κενός έλεγχος
Κενή λειτουργία συναρμολογήσεων
1 ψεκάστε την ιονική αντλία
1 ιονική σύνθετη αντλία κτητόρων
1 στροβιλο μοριακή αντλία
1 μηχανική αντλία
Αίθουσα Vacuum>6E-4Pa δειγμάτων
Αίθουσα Vacuum>2E-7 PA πυροβόλων όπλων ηλεκτρονίων
Πλήρως αυτόματος κενός έλεγχος
Κενή λειτουργία συναρμολογήσεων
Ανιχνευτής SE: Υψηλός κενός δευτεροβάθμιος ανιχνευτής ηλεκτρονίων (με την προστασία ανιχνευτών) SE: Υψηλός κενός δευτεροβάθμιος ανιχνευτής ηλεκτρονίων (με την προστασία ανιχνευτών) SE: Υψηλός κενός δευτεροβάθμιος ανιχνευτής ηλεκτρονίων (με την προστασία ανιχνευτών)
EBSΗμιαγωγός 4 κατάτμηση
Πίσω διασκορπίζοντας ανιχνευτής

Προαιρετικό πρότυπο: A63.7069-LV
EBS (LV)Ημιαγωγός 4 κατάτμηση
Πίσω διασκορπίζοντας ανιχνευτής
Προαιρετικός Προαιρετικός
CCD: Υπέρυθρη κάμερα CCD CCD: Υπέρυθρη κάμερα CCD CCD: Υπέρυθρη κάμερα CCD
Επεκτείνετε το λιμένα 2 επεκτείνετε τους λιμένες στο δωμάτιο δειγμάτων για
EDS, BSD, WDS Κ.ΛΠ.
4 επεκτείνετε τους λιμένες στο δωμάτιο δειγμάτων για
EBS, EDS, BSD, WDS Κ.ΛΠ.
4 επεκτείνετε τους λιμένες στο δωμάτιο δειγμάτων για
EBS, EDS, BSD, WDS Κ.ΛΠ.
Στάδιο δειγμάτων 5 στάδιο αξόνων, χειρωνακτικός έλεγχος 4 αυτόματος +1
Σειρά ταξιδιού:
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90° (χειρωνακτικό)
Λειτουργία επιφυλακών & στάσεων αφής
5 αυτόματο μέσο στάδιο αξόνων
Σειρά ταξιδιού:
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Λειτουργία επιφυλακών & στάσεων αφής

Προαιρετικό πρότυπο:
A63.7080-μ 5 χειρωνακτικό στάδιο αξόνων
A63.7080-λ 5 αυτόματο μεγάλο στάδιο αξόνων
5 αυτόματο μεγάλο στάδιο αξόνων
Σειρά ταξιδιού:
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Λειτουργία επιφυλακών & στάσεων αφής
Ανώτατο δείγμα Dia.175mm, ύψος 35mm Dia.175mm, ύψος 20mm Dia.340mm, ύψος 50mm
Σύστημα εικόνας Πραγματικά ακόμα εικονοκύτταρα ανάλυσης 4096x4096 εικόνας ανώτατα,
Μορφή αρχείου εικόνας: BMP (προεπιλογή), GIF, JPG, PNG, TIF
Πραγματικά ακόμα εικονοκύτταρα ανάλυσης 16384x16384 εικόνας ανώτατα,
Μορφή αρχείου εικόνας: TIF (προεπιλογή), BMP, GIF, JPG, PNG
Βίντεο: Αυτόματο ψηφιακό .AVI βίντεο αρχείων
Πραγματικά ακόμα εικονοκύτταρα ανάλυσης 16384x16384 εικόνας ανώτατα,
Μορφή αρχείου εικόνας: TIF (προεπιλογή), BMP, GIF, JPG, PNG
Βίντεο: Αυτόματο ψηφιακό .AVI βίντεο αρχείων
Υπολογιστής & λογισμικό Ο σταθμός εργασίας PC κερδίζει το σύστημα 10, με το επαγγελματικό λογισμικό ανάλυσης εικόνας για να ελέγξει πλήρως ολόκληρη τη λειτουργία μικροσκοπίων SEM, προδιαγραφή τουλάχιστον διά I5 3.2GHz, μνήμη 4G, 24» όργανο ελέγχου ΔΙΕΘΝΏΝ ΕΙΔΗΣΕΟΓΡΑΦΙΚΏΝ ΠΡΑΚΤΟΡΕΊΩΝ LCD, σκληρός δίσκος 500G, ποντίκι, πληκτρολόγιο υπολογιστών
Επίδειξη φωτογραφιών Το επίπεδο εικόνας είναι πλούσιο και λεπτολόγο, παρουσίαση πραγματική - χρονική ενίσχυση, κυβερνήτης, τάση, γκρίζα καμπύλη
Διάσταση
& Βάρος
Σώμα 800x800x1850mm μικροσκοπίων
Λειτουργώντας πίνακας 1340x850x740mm
Συνολικό βάρος 400Kg
Σώμα 800x800x1480mm μικροσκοπίων
Λειτουργώντας πίνακας 1340x850x740mm
Συνολικό βάρος 450Kg
Σώμα 1000x1000x1730mm μικροσκοπίων
Λειτουργώντας πίνακας 1330x850x740mm
Συνολικό βάρος 550Kg
Προαιρετικά εξαρτήματα
Προαιρετικά εξαρτήματα A50.7002 φασματόμετρο ενεργειακής διασποράς ακτίνας X EDS
A50.7011 ιονικό ψεκάζοντας Coater
A50.7001 πίσω διασκορπίζοντας ανιχνευτής ηλεκτρονίων EBS
A50.7002 φασματόμετρο ενεργειακής διασποράς ακτίνας X EDS
A50.7011 ιονικό ψεκάζοντας Coater
A50.7030 μηχανοποιήστε το πίνακα ελέγχου
A50.7001 πίσω διασκορπίζοντας ανιχνευτής ηλεκτρονίων EBS
A50.7002 φασματόμετρο ενεργειακής διασποράς ακτίνας X EDS
A50.7011 ιονικό ψεκάζοντας Coater
A50.7030 μηχανοποιήστε το πίνακα ελέγχου
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 15
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 16
A50.7001 Ανιχνευτής EBS Ημιαγωγός πίσω διασκορπίζοντας ανιχνευτής τεσσάρων τμήματος
Διαθέσιμος στα συστατικά A+B, πληροφορίες αβ μορφολογίας
Το διαθέσιμο δείγμα παρατηρεί χωρίς επιμετάλλωση του χρυσού
Διαθέσιμος μέσα παρατηρήστε την ακαθαρσία και τη διανομή από το χάρτη Grayscale άμεσα.
A50.7002 EDS (ανιχνευτής ακτίνας X) Παράθυρο νιτριδίων πυριτίου (Si3N4) για να βελτιστοποιήσει τη χαμηλή μετάδοση ενεργειακής ακτίνας X για την ελαφριά ανάλυση στοιχείων
Το άριστο ψήφισμα και η προηγμένη χαμηλού θορύβου ηλεκτρονική τους παρέχουν τη σημαντική απόδοση ρυθμοαπόδοσης
Το μικρό ίχνος προσφέρει την ευελιξία να εξασφαλιστούν ιδανικοί όροι γεωμετρίας και συλλογής Aata
Οι ανιχνευτές περιέχουν ένα τσιπ 30mm2.
A50.7003 EBSD (αναδρομικά διασκορπισμένη διάθλαση δεσμών ηλεκτρονίων) ο χρήστης θα μπορούσε προσανατολισμός κρυστάλλου ανάλυσης, φάση κρυστάλλου και σύσταση μικροϋπολογιστών των υλικών και της σχετικής απόδοσης υλικών, κ.λπ.
αυτόματη βελτιστοποίηση των τοποθετήσεων καμερών EBSD
κατά τη διάρκεια της συλλογής δεδομένων, κάνετε τη διαλογική σε πραγματικό χρόνο ανάλυση για να λάβετε τις μέγιστες πληροφορίες
όλα τα στοιχεία μαρκαρίστηκαν με τη χρονική ετικέττα, η οποία μπορεί να αντιμετωπισθεί ανά πάσα στιγμή
X12 1392 X 1040 υψηλής ανάλυσης
Ανίχνευση και ταχύτητα δεικτών: 198 σημεία/SEC, με το Νι ως πρότυπα, υπό τον όρο 2~5nA, αυτό μπορούν να εξασφαλίσουν το ποσοστό ≥99% δεικτών
εργασίες καλά υπό τον όρο της χαμηλής τρέχουσας και χαμηλής τάσης ακτίνων 5kV σε 100pA
προσανατολισμός που μετρά την ακρίβεια: Καλύτερα από 0,1 βαθμούς
Χρησιμοποίηση του τρηπλού συστήματος δεικτών: καμία ανάγκη δεν στηρίζεται στον ενιαίο καθορισμό ζωνών, εύκολη ευρετηρίαση της κακής ποιότητας σχεδίων
αφιερωμένη βάση δεδομένων: EBSD βάση δεδομένων που λαμβάνεται ειδική από τη διάθλαση ηλεκτρονίων: >400 δομή φάσης
Δυνατότητα δεικτών: μπορεί αυτόματα να συντάξει ευρετήριο όλα τα υλικά κρυστάλλου 7 συστημάτων κρυστάλλου.
Οι προηγμένες επιλογές περιλαμβάνουν την ελαστική ακαμψία υπολογισμού (ελαστική ακαμψία), παράγοντας του Taylor (Taylor), Schmidt (Schmid) παράγοντας και ούτω καθεξής.
A50.7010 Μηχανή επιστρώματος Γυαλί που προστατεύει τη Shell: ∮250mm 340mm υψηλά
Αίθουσα επεξεργασίας γυαλιού:
∮88mm 140mm υψηλό, ∮88mm 57mm υψηλά
Σκηνικό μέγεθος δειγμάτων: ∮40mm (ανώτατος)
Κενό σύστημα: αντλία molecula και μηχανική αντλία
Κενή ανίχνευση: Διαμέτρημα Pirani
Κενό: καλύτερα από 2 X 10-3 PA
Κενή προστασία: 20 PA με Microscale τη βαλβίδα πληθωρισμού
Κίνημα δειγμάτων: Περιστροφή αεροπλάνων, μετάπτωση κλίσης.
A50.7011 Ιονικό ψεκάζοντας Coater Αίθουσα επεξεργασίας γυαλιού: ∮100mm 130mm υψηλό
Σκηνικό μέγεθος δειγμάτων: ∮40mm (λαβή 6 φλυτζάνια δειγμάτων)
Χρυσό μέγεθος στόχων: ∮58mm*0.12mm (πάχος)
Κενή ανίχνευση: Διαμέτρημα Pirani
Κενή προστασία: 20 PA με Microscale τη βαλβίδα πληθωρισμού
Μέσο αέριο: αργό ή αέρας με την ειδική ρύθμιση κολπίσκων και αερίου αέρα αερίου αργού Microscale.
A50.7012 Ιονικό ψεκάζοντας Coater αργού Το δείγμα καλύφθηκε με τον άνθρακα και το χρυσό κάτω από το υψηλό κενό
Περιστρέψιμος πίνακας δειγμάτων, ομοιόμορφο επίστρωμα, μέγεθος μορίων για 3-5nm
Καμία επιλογή του υλικού στόχων, καμία ζημία στα δείγματα
Οι λειτουργίες του ιονικού καθαρισμού και της ιονικής εκλέπτυνσης μπορούν να πραγματοποιηθούν.
A50.7013 Κρίσιμος στεγνωτήρας σημείου Εσωτερική διάμετρος: 82mm, εσωτερικό μήκος: 82mm
Σειρά πίεσης: 0-2000psi
Σειρά θερμοκρασίας: 0°-50° Γ (32°-122° Φ)
A50.7014 Λιθογραφία δεσμών ηλεκτρονίων Με βάση το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο ανίχνευσης, ένα νέο σύστημα νανο-έκθεσης αναπτύχθηκε
      Το Modificaton έχει κρατήσει όλες τις λειτουργίες SEM για την παραγωγή της εικόνας πλάτους γραμμών Nanoscale
Το σύστημα Widly Modificated Ebl ίσχυσε στις μικροηλεκτρονικές συσκευές, οπτικοηλεκτρονικές συσκευές, συσκευές Quantun, Ε&Α συστημάτων μικροηλεκτρονικής.
 
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 17
A63.7069 τυποποιημένη εξάρτηση αναλωσίμων
1 Ίνα βολφραμίου Προ-κεντροθετημένος, εισαγόμενος 1 κιβώτιο (5 PC)
2 Φλυτζάνι δειγμάτων Dia.13mm 5 PC
3 Φλυτζάνι δειγμάτων Dia.32mm 5 PC
4 Double-sided αγώγιμη ταινία άνθρακα 6mm 1 συσκευασία
5 Κενό λίπος   10 PC
6 Άτριχο ύφασμα   1 σωλήνας
7 Γυαλίζοντας κόλλα   1 PC
8 Κιβώτιο δειγμάτων   2 τσάντες
9 Πατσαβούρα βαμβακιού   1 PC
10 Φίλτρο υδρονέφωσης πετρελαίου   1 PC
A63.7069 τυποποιημένη εξάρτηση εργαλείων & μερών
1 Εσωτερικό Hexagon κλειδί 1.5mm~10mm 1 σύνολο
2 Τσιμπιδάκια Μήκος 100120mm 1 PC
3 Αυλακωμένο κατσαβίδι 2*50mm, 2*125mm 2 PC
4 Διαγώνιο κατσαβίδι 2*125mmm 1 PC
5 Remover διαφραγμάτων   1 PC
6 Καθαρίζοντας ράβδος   1 PC
7 Εργαλείο ρύθμισης ινών   1 PC
8 Στόλισμα ρύθμισης ινών   3 PC
9 Εξολκέας σωλήνων   1 PC
Υψηλής ανάλυσης ψηφιακό ανίχνευσης οπτικό στάδιο δειγμάτων μικροσκοπίων τεράστιο 18