Να στείλετε μήνυμα
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
6x~1000000x Scanning Optical Microscope Digital Five Axis Motorized Stage

6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων

  • Υψηλό φως

    6x ανίχνευση του οπτικού μικροσκοπίου

    ,

    άξονας πέντε που ανιχνεύει το οπτικό μικροσκόπιο

  • Ψήφισμα
    Πυροβόλο όπλο ηλεκτρονίων Schottky
  • Ενίσχυση
    6x~1000000x
  • Πυροβόλο όπλο ηλεκτρονίων
    Ηλεκτρονικό πιστόλι εκπομπής Schottky
  • Επιταχύνοντας τάση
    0~30KV
  • Μέγιστη διάμετρος δείγματος
    320mm
  • Κενό σύστημα
    Ιονική αντλία, στροβιλο μοριακή αντλία περιστροφής αντλιών、, κτήτορας Pum
  • Τόπος καταγωγής
    Κίνα
  • Μάρκα
    OPTO-EDU
  • Πιστοποίηση
    CE, Rohs
  • Αριθμό μοντέλου
    A63.7081
  • Ποσότητα παραγγελίας min
    1 pc
  • Τιμή
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Συσκευασία λεπτομέρειες
    Συσκευασία χαρτοκιβωτίων, για τη μεταφορά εξαγωγής
  • Χρόνος παράδοσης
    5 ~ 20 ημέρες
  • Όροι πληρωμής
    Μ / Τ, Δυτική Ένωση, Paypal
  • Δυνατότητα προσφοράς
    μήνας 5000 PC

6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων

 
  • 6x~1000000x με ανιχνευτή SED+CCD, Μηχανοκίνητη Σκάλα πέντε αξόνων
  • E-Beam Acceleration με σταθερή παροχή ρεύματος δέσμης Εξαιρετική εικόνα υπό χαμηλή τάση
  • Το μη αγώγιμο δείγμα μπορεί να παρατηρηθεί απευθείας Δεν χρειάζεται να εκτοξευθεί σε χαμηλή τάση
  • Εύκολη και φιλική διεπαφή λειτουργίας, όλα ελέγχονται από το ποντίκι στο σύστημα Windows
  • Μεγάλο Δωμάτιο Δείγματος Με Πέντε Άξονες Ευκεντρική Μηχανοκίνητη Σκηνή Μεγάλο Μέγεθος, Μέγιστη Διάμετρος Δείγματος 340mm
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 0
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 1
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 2
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 3
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 4
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 5
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 6
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 7
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 8
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 9
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 10
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 11
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 12
 
A63.7080, A63.7081 Κύρια λειτουργία λογισμικού
Ενσωματωμένη θέση σε λειτουργία υψηλής τάσης Αυτόματη ενεργοποίηση/απενεργοποίηση νήματος Πιθανή ρύθμιση βάρδιας
Ρύθμιση φωτεινότητας Ηλεκτρική σε κεντρική ρύθμιση Αυτόματη φωτεινότητα
Ρύθμιση αντίθεσης Αντικειμενική ρύθμιση φακού Αυτόματη εστίαση
Ρύθμιση μεγέθυνσης Αντικειμενική απεξάρτηση Αυτόματη εξάλειψη αστιγματισμού
Λειτουργία σάρωσης επιλεγμένης περιοχής Ηλεκτρική ρύθμιση περιστροφής Διαχείριση παραμέτρων μικροσκοπίου
Λειτουργία σάρωσης σημείου Ρύθμιση μετατόπισης δέσμης ηλεκτρονίων Εμφάνιση σε πραγματικό χρόνο του μεγέθους του πεδίου σάρωσης
Λειτουργία σάρωσης γραμμής Ρύθμιση κλίσης δέσμης ηλεκτρονίων Ρύθμιση φακού πιστολιού
Επιφανειακή σάρωση Ρύθμιση ταχύτητας σάρωσης Πολυκαναλική είσοδος
Παρακολούθηση ισχύος υψηλής τάσης Κεντράρισμα ταλάντευσης Μέτρηση χάρακα
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 13
SEM A63.7069 A63.7080 A63.7081
Ανάλυση 3nm@30KV(SE)
6nm@30KV(BSE)
1,5nm@30KV(SE)
3nm@30KV(BSE)
1,0nm@30KV(SE)
3,0nm@1KV(SE)
2,5nm@30KV(BSE)
Μεγέθυνση 8x~300000x Αρνητική πραγματική μεγέθυνση 8x~800000x Αρνητική πραγματική μεγέθυνση 6x~1000000x Αρνητική πραγματική μεγέθυνση
Ηλεκτρονικό πιστόλι Φυσίγγιο με νήμα βολφραμίου προ-κεντραρισμένο Πιστόλι εκπομπών πεδίου Schottky Πιστόλι εκπομπών πεδίου Schottky
Τάση Τάση επιτάχυνσης 0~30KV, Συνεχής Ρυθμιζόμενη, Ρύθμιση Βήματος 100V@0-10Kv, 1KV@10-30KV
Γρήγορη ματιά Λειτουργία γρήγορης προβολής εικόνας με ένα πλήκτρο N/A N/A
Σύστημα φακών Ηλεκτρομαγνητικός κωνικός φακός τριών επιπέδων Ηλεκτρομαγνητικός κωνικός φακός πολλαπλών επιπέδων
Ανοιγμα 3 αντικειμενικά ανοίγματα από μολυβδαίνιο, ρυθμιζόμενα έξω από το σύστημα κενού, Δεν χρειάζεται αποσυναρμολόγηση αντικειμενικός στόχος για αλλαγή διαφράγματος
Σύστημα κενού 1 Turbo Molecular Pump
1 Μηχανική Αντλία
Sample Room Vacuum>2,6E-3Pa
Electron Gun Room Vacuum>2,6E-3Pa
Πλήρως αυτόματος έλεγχος κενού
Λειτουργία Interlock κενού

Προαιρετικό μοντέλο: A63.7069-LV
1 Turbo Molecular Pump
2Μηχανικές Αντλίες
Sample Room Vacuum>2,6E-3Pa
Electron Gun Room Vacuum>2,6E-3Pa
Πλήρως αυτόματος έλεγχος κενού
Λειτουργία Interlock κενού

Χαμηλό κενόΕύρος 10~270Pa για γρήγορη εναλλαγή σε 90 δευτερόλεπτα για ΣΕΒ (LV)
1 Σετ αντλίας ιόντων
1 Turbo Molecular Pump
1 Μηχανική Αντλία
Sample Room Vacuum>6E-4Pa
Electron Gun Room Vacuum>2E-7 Pa
Πλήρως αυτόματος έλεγχος κενού
Λειτουργία Interlock κενού
1 Αντλία ιόντων Sputter
1 Αντλία Σύνθετων Ιόντων Getter
1 Turbo Molecular Pump
1 Μηχανική Αντλία
Sample Room Vacuum>6E-4Pa
Electron Gun Room Vacuum>2E-7 Pa
Πλήρως αυτόματος έλεγχος κενού
Λειτουργία Interlock κενού
Ανιχνευτής SE: Δευτερεύων ανιχνευτής ηλεκτρονίων υψηλού κενού (με προστασία ανιχνευτή) SE: Δευτερεύων ανιχνευτής ηλεκτρονίων υψηλού κενού (με προστασία ανιχνευτή) SE: Δευτερεύων ανιχνευτής ηλεκτρονίων υψηλού κενού (με προστασία ανιχνευτή)
ΣΕΒ: Semiconductor 4 Segmentation
Ανιχνευτής Σκέδασης Πίσω


Προαιρετικό μοντέλο: A63.7069-LV
ΣΕΒ (LV): Semiconductor 4 Segmentation
Ανιχνευτής Σκέδασης Πίσω
Προαιρετικός Προαιρετικός
CCD:Υπέρυθρη κάμερα CCD CCD:Υπέρυθρη κάμερα CCD CCD:Υπέρυθρη κάμερα CCD
Επέκταση λιμένα 2 Επέκταση θυρών στο Sample Room For
EDS, BSD, WDS κ.λπ.
4 Επέκταση θυρών στο Sample Room For
BSE, EDS, BSD, WDS κ.λπ.
4 Επέκταση θυρών στο Sample Room For
BSE, EDS, BSD, WDS κ.λπ.
Στάδιο δείγματος Στάδιο 5 Άξονες, 4Αυτο+1ΕγχειρίδιοΕλεγχος
Εύρος ταξιδιού:
X=70mm, Y=50mm, Z=45mm,
R=360°, T=-5°~+90° (Χειροκίνητο)
Αγγίξτε Λειτουργία ειδοποίησης και διακοπής
5 ΆξονεςΑυτο ΜέσηςΣτάδιο
Εύρος ταξιδιού:
X=80mm, Y=50mm, Z=30mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Αγγίξτε Λειτουργία ειδοποίησης και διακοπής

Προαιρετικό μοντέλο:

A63.7080-M5 ΆξονεςΕγχειρίδιοΣτάδιο
A63.7080-L5 ΆξονεςΑυτο ΜεγάλοΣτάδιο
5 ΆξονεςΑυτο ΜεγάλοΣτάδιο
Εύρος ταξιδιού:
X=150mm, Y=150mm, Z=60mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Αγγίξτε Λειτουργία ειδοποίησης και διακοπής
Μέγιστο δείγμα Διάμετρος 175mm, Ύψος 35mm Διάμετρος 175mm, Ύψος 20mm Διάμετρος 340mm, Ύψος 50mm
Σύστημα Εικόνας Μέγιστη ανάλυση πραγματικών ακίνητων εικόνων 4096x4096 pixel,
Μορφή αρχείου εικόνας: BMP (Προεπιλογή), GIF, JPG, PNG, TIF
Μέγιστη ανάλυση πραγματικής ακίνητης εικόνας 16384x16384 pixel,
Μορφή αρχείου εικόνας: TIF (Προεπιλογή), BMP, GIF, JPG, PNG
Βίντεο: Αυτόματη εγγραφή ψηφιακής .AVI βίντεο
Μέγιστη ανάλυση πραγματικής ακίνητης εικόνας 16384x16384 pixel,
Μορφή αρχείου εικόνας: TIF (Προεπιλογή), BMP, GIF, JPG, PNG
Βίντεο: Αυτόματη εγγραφή ψηφιακής .AVI βίντεο
Λογισμικό Ηλεκτρονικών Υπολογιστών Σύστημα PC Work Station Win 10, με επαγγελματικό λογισμικό ανάλυσης εικόνας για τον πλήρη έλεγχο της λειτουργίας μικροσκοπίου SEM, Προδιαγραφές υπολογιστή Όχι Λιγότερο από Inter I5 3,2 GHz, Μνήμη 4G, Οθόνη IPS LCD 24", Σκληρός Δίσκος 500G, Ποντίκι, Πληκτρολόγιο
Εμφάνιση φωτογραφιών Το επίπεδο εικόνας είναι πλούσιο και σχολαστικό, εμφανίζει μεγέθυνση σε πραγματικό χρόνο, χάρακα, τάση, γκρι καμπύλη
Διάσταση
& Βάρος
Σώμα μικροσκοπίου 800x800x1850mm
Τραπέζι εργασίας 1340x850x740mm
Συνολικό Βάρος 400 Kg
Σώμα μικροσκοπίου 800x800x1480mm
Τραπέζι εργασίας 1340x850x740mm
Συνολικό Βάρος 450 Kg
Σώμα μικροσκοπίου 1000x1000x1730mm
Τραπέζι εργασίας 1330x850x740mm
Συνολικό Βάρος 550 Kg
Προαιρετικά αξεσουάρ
Προαιρετικά αξεσουάρ A50.7002EDS Energy Dispersive Ray X-Spectrometer
A50.7011Ion Sputtering Coater
A50.7001Ανιχνευτής Ηλεκτρονίων Πίσω Σκέδασης BSE
A50.7002EDS Energy Dispersive Ray X-Spectrometer
A50.7011Ion Sputtering Coater
A50.7030Μηχανισμός πίνακα ελέγχου
A50.7001Ανιχνευτής Ηλεκτρονίων Πίσω Σκέδασης BSE
A50.7002EDS Energy Dispersive Ray X-Spectrometer
A50.7011Ion Sputtering Coater
A50.7030Μηχανισμός πίνακα ελέγχου
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 14
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 15
A50.7001 Ανιχνευτής ΣΕΒ Ανιχνευτής πίσω σκέδασης τεσσάρων τμημάτων ημιαγωγών.
Διαθέσιμο σε Συστατικά Α+Β, Πληροφορίες Μορφολογίας AB;
Διαθέσιμο δείγμα παρατήρησης χωρίς χρυσό.
Διαθέσιμο σε Παρατηρήστε την ακαθαρσία και την κατανομή απευθείας από τον χάρτη της κλίμακας του γκρι.
A50.7002 EDS (Ανιχνευτής ακτίνων Χ) Παράθυρο νιτριδίου πυριτίου (Si3N4) για βελτιστοποίηση μετάδοσης ακτίνων Χ χαμηλής ενέργειας για ανάλυση ελαφρών στοιχείων.
Η εξαιρετική ανάλυση και τα προηγμένα ηλεκτρονικά τους χαμηλού θορύβου παρέχουν εξαιρετική απόδοση απόδοσης.
Το Small Footprint προσφέρει ευελιξία για τη διασφάλιση ιδανικών συνθηκών γεωμετρίας και συλλογής Aata.
Οι ανιχνευτές περιέχουν ένα τσιπ 30mm2.
A50.7003 EBSD (Πίσω διάθλαση δέσμης ηλεκτρονίων) Ο χρήστης θα μπορούσε να αναλύσει τον προσανατολισμό των κρυστάλλων, την κρυσταλλική φάση και την μικρουφή των υλικών και την απόδοση των σχετικών υλικών κ.λπ.
αυτόματη βελτιστοποίηση των ρυθμίσεων της κάμερας EBSD
κατά τη συλλογή δεδομένων, κάντε διαδραστική ανάλυση σε πραγματικό χρόνο για να λάβετε τις μέγιστες πληροφορίες
Όλα τα δεδομένα ήταν επώνυμα με ετικέτα χρόνου, η οποία μπορεί να προβληθεί ανά πάσα στιγμή
υψηλή ανάλυση 1392 x 1040 x 12
Ταχύτητα σάρωσης και ευρετηρίου: 198 πόντοι / δευτερόλεπτο, με το Ni ως πρότυπο, υπό την προϋπόθεση των 2~5nA, μπορεί να εξασφαλίσει το ποσοστό του δείκτη ≥99%.
λειτουργεί καλά υπό συνθήκες ρεύματος χαμηλής δέσμης και χαμηλής τάσης 5 kV στα 100 pA
ακρίβεια μέτρησης προσανατολισμού: Καλύτερη από 0,1 μοίρες
Χρήση συστήματος ευρετηρίου triplex: δεν χρειάζεται να βασίζεστε στον ορισμό μιας ζώνης, εύκολη ευρετηρίαση κακής ποιότητας μοτίβου
αποκλειστική βάση δεδομένων: Ειδική βάση δεδομένων EBSD που λαμβάνεται με περίθλαση ηλεκτρονίων: δομή φάσης >400
Δυνατότητα ευρετηρίου: μπορεί αυτόματα να ευρετηριάσει όλα τα κρυσταλλικά υλικά 7 κρυσταλλικών συστημάτων.
Οι προηγμένες επιλογές περιλαμβάνουν τον υπολογισμό της ελαστικής ακαμψίας (Elastic Stiffness), του παράγοντα Taylor (Taylor), του παράγοντα Schmidt (Schmid) και ούτω καθεξής.
A50.7010 Μηχανή επίστρωσης Γυαλί Προστατευτικό Κέλυφος: ∮250mm;Ύψος 340 mm;
Θάλαμος Επεξεργασίας Γυαλιού:
∮88mm;Ύψος 140mm, ∮88mm;Ύψος 57 mm;
Μέγεθος σταδίου δείγματος: ∮40 ​​mm (μέγιστο);
Σύστημα κενού: αντλία μορίων και μηχανική αντλία.
Ανίχνευση κενού: Pirani Gage;
Κενό: καλύτερα από 2 x 10-3 Pa;
Προστασία υπό κενό: 20 Pa με βαλβίδα φουσκώματος μικροκλίμακα.
Κίνηση δείγματος: Περιστροφή επιπέδου, μετάπτωση κλίσης.
A50.7011 Ion Sputtering Coater Θάλαμος Επεξεργασίας Γυαλιού: ∮100mm;Ύψος 130 mm;
Μέγεθος Σταδίου Δείγματος: ∮40mm( Κρατήστε 6 κύπελλα δείγματος) ;
Χρυσό Μέγεθος Στόχου: ∮58mm*0,12mm (πάχος);
Ανίχνευση κενού: Pirani Gage;
Προστασία υπό κενό: 20 Pa με βαλβίδα φουσκώματος μικροκλίμακα.
Μεσαίο αέριο: αργό ή αέρας με αέριο αργού ειδική είσοδο αέρα και ρύθμιση αερίου σε μικροκλίμακα.
A50.7012 Coater Sputtering Ion Argon Το δείγμα επιστρώθηκε με άνθρακα και χρυσό υπό υψηλό κενό.
Περιστρεφόμενος πίνακας δειγμάτων, Ομοιόμορφη επίστρωση, Μέγεθος σωματιδίων Περίπου 3-5 nm.
Καμία επιλογή υλικού στόχου, καμία ζημιά στα δείγματα.
Οι λειτουργίες του καθαρισμού ιόντων και της αραίωσης ιόντων μπορούν να πραγματοποιηθούν.
A50.7013 Στεγνωτήριο κρίσιμου σημείου Εσωτερική διάμετρος: 82 mm, Εσωτερικό μήκος: 82 mm;
Εύρος πίεσης: 0-2000psi;
Εύρος θερμοκρασίας: 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014 Λιθογραφία δέσμης ηλεκτρονίων Με βάση το ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης, αναπτύχθηκε ένα νέο σύστημα νανοέκθεσης.
Το Modificaton έχει διατηρήσει όλες τις λειτουργίες Sem για τη δημιουργία εικόνας πλάτους γραμμής σε νανοκλίμακα.
Το τροποποιημένο σύστημα Ebl εφαρμόζεται ευρέως σε μικροηλεκτρονικές συσκευές, οπτοηλεκτρονικές συσκευές, συσκευές Quantun, συστήματα έρευνας και ανάπτυξης μικροηλεκτρονικών.
 
6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 16
A63.7080, A63.7081 Τυπική στολή αναλώσιμων
1 Νήμα εκπομπής πεδίου Εγκατεστημένο σε μικροσκόπιο 1 τεμ
2 Κύπελλο δείγματος Διάμετρος 13mm 5 τεμ
3 Κύπελλο δείγματος Διάμετρος.32mm 5 τεμ
4 Carbon Αγώγιμη Ταινία Διπλής Όψης 6mm 1 Πακέτο
5 Γράσο κενού   10 τεμ
6 Άτριχο ύφασμα   1 σωλήνας
7 Πάστα στίλβωσης   1 τεμ
8 Κουτί δειγμάτων   2 τσάντες
9 Μπατονέτα   1 τεμ
10 Φίλτρο ομίχλης λαδιού   1 τεμ
A63.7080, A63.7081 Standard Εργαλεία & Εξαρτήματα
1 Εσωτερικό εξάγωνο κλειδί 1,5mm~10mm 1 σετ
2 Τσιμπιδακι ΦΡΥΔΙΩΝ Μήκος 100-120mm 1 τεμ
3 Κατσαβίδι με σχισμή 2*50mm, 2*125mm 2 τεμ
4 Σταυρό κατσαβίδι 2*125 mm 1 τεμ
5 Καθαρίστε τον σωλήνα εξαερισμού Διάμετρος 10/6,5 mm (Διάμετρος εξόδου/Εσωτερική διάμετρος)
6 Βαλβίδα μείωσης πίεσης εξαερισμού Πίεση εξόδου 0-0,6MPa 1 τεμ
7 Εσωτερικό τροφοδοτικό ψησίματος 0-3A DC 2 τεμ
8 Τροφοδοτικό UPS 10 kVA 2 τεμ

6x~1000000x ανίχνευση του οπτικού ψηφιακού πέντε μηχανοποιημένου άξονας σταδίου μικροσκοπίων 17